潮科技 | 用特定晶體關聯可見光與紅外光，或開啟紅外感測新視野
編者按：本文是36氪“邊界計劃”的轉載內容，來自微信公眾號“ MEMS ”（ID：MEMSensor），作者麥姆斯諮詢殷飛；36氪經授權轉載。
一種經濟型緊湊技術可利用可見光波段光學元件分析紅外波段中的樣品，該技術有望徹底改變醫學和材料測試。
紅外光譜法可用於材料分析、取證和文物鑑定等領域，但紅外光譜掃描器體積龐大且價格昂貴。而可見光波段技術相對更經濟且可在智慧手機攝像頭和鐳射筆等裝置上實現使用。
據麥姆斯諮詢報道，新加坡A*STAR研究所Data Storage Institute（DSI）子所的Leonid Krivitsky和同事利用該思路，開發出一種“可將一束鐳射轉換為兩束相關聯的低能量光束”方法：利用兩光束的關聯，可實現在可見光波段光束中探測紅外波段光束。
Krivitsky認為：“這是一款非常簡單且緊湊的裝置，僅用簡單的光學元件即可實現，同時我們已實現了可與傳統紅外系統相媲美的解析度。”
研究團隊將鐳射投射入鈮酸鋰晶體，該晶體通過被稱為“引數下轉換”的非線性過程，將部分鐳射光子分裂成兩束低能量的量子關聯光子，其中一束在紅外波段，另一束在可見光波段。
在類似於邁克爾遜干涉儀（Michelson interferometer）的裝置中，將三束光束分裂，並投射至反射鏡將其反射回晶體。當原始鐳射束重新進入晶體時，就建立了一對新的下轉換光束，與第一次射入晶體產生的光束髮生干涉。
研究團隊正是利用了這種干涉：放置在紅外光束中的樣品影響了第一次下轉換與第二次下轉換光束之間的干涉，由於紅外光束與可見光光束是量子關聯的，這種影響可在這兩個波段的光束中被探測到。
該方法不僅能通過可見光來分析紅外光束的變化，而且可比傳統光譜學提供更多資訊。Krivitsky說：“因為這是一種干涉測量，我們可以獨立測量光束的吸收率和折射率，這是在傳統紅外光譜儀中無法實現的。”
研究團隊通過系統地改變樣品在光束中的位置，能夠獲得更多關於樣品的資訊。通過這些測量，研究人員可利用光學相干斷層成像技術構建樣品的三維影象。
Krivitsky認為：“這是一種非常有影響力的概念。這也是光譜學、成像與廣泛調節波長能力的完美結合。”研究團隊利用該技術可分析在1.5微米到3微米之間的四種波長中的樣品，而以前分析這些波長下的樣品需要複雜的鐳射器和探測器。
該技術的應用範圍還可通過外接相應的光學元件擴充套件到近紅外波段和遠紅外波段。Krivitsky說道：“據我們所知，目前還沒有工作範圍超出1.5微米的市場可得的光學相干層析成像系統。”